テスト技法とテストケース演習：開発技術者向け

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テスト技法とテストケース演習：開発技術者向け

～開発技術者に必要な、漏れのない、効率的なテストを行うために～

プログラムは厳密な論理や、約束事に従って作成されていなければならず、あいまいな世界で生活している社会とは各段に違う正確性を要求される世界です。プログラムにバグが混入するのは避けられない現象と考えねばなりません。
そのバグを摘出するテスト作業では、バグの隠れ方と探し方を合致させることが必要です。そのためには、テスト対象であるプログラムやシステムの特性を理解し、テストすべき箇所を特定する技術と、様々な技法を選択、駆使して、漏れのないテストケースを設計する技術が必要です。
テストケース設計技法は漏れのないテストを実施するための方法ですが、単純な利用はテストケース数を増加させるだけです。
したがって、実際のテストでは、バグが隠れているプログラムやシステムの特性を理解して、テスト対象（探索空間）を絞り、そこに適用するテスト技法を選択する必要があります。
本セミナーでは、多くの演習を通して開発技術者に必要な、漏れのない、効率的なテストを行うための実践的技術を習得します。

この講座は、こんなことが学べます

テスト技法の基礎である、同値分割、境界値、デシジョンテーブル、条件分岐テスト、直交表、ALL-Pairなどに加えてCFD（Cause Flow Diagram）、バリエーションマトリックスなどのテスト技法の応用を学ぶことができます。
対象となるプログラムの特性、テスト局面や派生開発などの制約条件から、最適な技法を選択し、説明し、実践する力を演習を通して身につけることができます。

プログラム

	時　間	主　要　内　容
1日目	9：30～12：30	テストの全体像テストを合理化するための基礎理論
1日目	13：30～17：30	テストの基礎技法
2日目	9：30～12：30	仕様ベースのテスト技法 CFDを用いて組合せの爆発を防ぐ
2日目	13：30～17：00	構成ベースのテスト技法バリエーションマトリックス All-Pair法

この講座は、こんな方が対象です

ソフトウェア開発技術者、ソフトウェアテスト技術者

この講座の講師をご紹介いたします（敬称略）

1972年 NEC入社。周辺装置のHW開発や初期の組込み開発を経験。汎用大型機のOS開発、開発支援システム、CADなどパッケージ開発、大規模システムの問題プロジェクト支援、社内の技術研修に従事。2002年 NECを早期退職し、コンサルタント業を始める。ソニー、ヤマハ、トヨタ、フェリカネットワークス、デンソー、富士写真、松下、サムスン電子（韓国）など多くの企業にコンサルと教育を提供し多くの現場を観察。1999年明治大学兼任講師、その後、東京理科大学を経て現在、法政大学講師。